위드인스트루먼트에서 제공한 Particle Metrix GmbH의 '제타 전위 형광 나노 입자 추적 분석 시스템'의 제품 특징, 제품 사양 그리고 제품 구성은 다음과 같다.
ZetaView®는 브라운 운동을 하거나 마이크로 전기 영동에 의해 움직이는 개별 입자를 Camera로 직접 촬영하여 엑소좀, 세포외소포, 리포좀, 바이러스, LNP(지질나노입자) 등, 나노 바이오 입자와 나노 기포(Nano bubble), 나노 금속(Nano metal), 나노 고분자 등, 나노 입자의 크기(Size), 농도(Particle number/mL), 제타 전위(Zeta Potential), 형광(Fluorescence) 분석, 이중 형광 염색 입자Colocalization)분석 을 정밀하게 수행할 수 있는 장비이다.
제품 특징
i. 샘플셀의 220nL 영역을 연속 스캐닝(Concentration Scanning Technology)하여 입자 개수, 농도 분석.
ii. 최대 샘플셀의 39개 positions(129nL)를 스캐닝하여 입자 크기 분석.
iii. 제타 전위(Zeta potential) 분석을 통해 시료의 분산 안정성 분석.
iV. 단일 형광 입자(Fluorescence Mode) 분석을 통한 타겟 입자의 수율(Yield) 분석.
V. 이중 염색 입자(Colocalization Mode) 분석을 통한 타겟 입자의 수율(Yield) 분석.
제품 사양
•Size Range: 10nm ~ 1,000nm
•Concentration Range: 105 ~ 109 particles/mL
•Zeta Potential Range: -500mV ~ +500mV
•pH Range: 1 ~ 13
•Conductivity Range: 3µS/cm ~ 15µS/cm
제품 구성
•ZetaView® Evolution Main Unit
•3 Bottles for Automatic washing of sample cell and Low Bleach Technology
•PC & Monitor
'제타 전위 형광 나노 입자 추적 분석 시스템'에 대한 상세한 내용은 Reference(참고자료)를 통하여 확인할 수 있다.
Reference(참고자료)
ZetaView® Evolution 카다로그,
Particle Metrix Homepage(https://www.particle-metrix.com/blogs/publications)
Maker(제조사): Particle Metrix GmbH
Country of Origin(원산지): Germany
Data Services(자료제공): 위드인스트루먼트
<이 기사는 사이언스21 매거진 2025년 12월호에 게재 되었습니다.>