D2 PHASER로 쌓아온 탁상형 XRD의 노하우와 D8 시리즈의 다양한 XRD 분석 접근법의 장점을 취합한 D6 PHASER가 탄생하였다. 상분석 및 정량분석, 잔류 응력 분석(Residual stress), 텍스쳐 측정(극점도 측정), 박막두께 분석(XRR), 저각 입사 측정(GID)이 가능하다.
'벤치탑 X선 회절분석기(Benchtop X-Ray Diffraction)'의 제품 특징, 제품 사양 그리고 제품 구성은 다음과 같다.
제품 특징
•박막 측정: 저각 입사 측정(GID), X선 반사율 측정(XRR).
•"다양한 샘플 스테이지 교체" 가능.
•분석 용도의 변화에 대응하는 "다양한 확장성".
•장비의 상태 체크 및 교정이 자동화로 진행, 연속 작업 측정은 터치 패널의 "Push-Button" 조작으로 간편화.
제품 사양
•X-ray Generator: 540W(30kV, 18mA), 600W(40kV, 15mA), 1.2kW(40kV, 30mA)
제품 구성(본체 + 악세서리 등)
•Detector options: SSD 160-2, LYNXEYE-2, LYNXEYE XE-T
•Stage options: Reflection/transmission stage, 12-position sample changer, Non-ambient stages
(RT to 500℃ or -10℃ to 150℃)
'벤치탑 X선 회절분석기(Benchtop X-Ray Diffraction)'에 대한 상세한 내용은 Reference(참고자료)를 통하여 확인할 수 있다.
Reference(참고자료)
D6 PHASER brochure ⒸBruker AXS GmbH
Maker(제조사): 브루커코리아(주)
Country of Origin(원산지): Germany
Data Services(자료제공): 브루커코리아(주)
<이 기사는 사이언스21 매거진 2024년 4월호에 게재 되었습니다.>
D2 PHASER로 쌓아온 탁상형 XRD의 노하우와 D8 시리즈의 다양한 XRD 분석 접근법의 장점을 취합한 D6 PHASER가 탄생하였다. 상분석 및 정량분석, 잔류 응력 분석(Residual stress), 텍스쳐 측정(극점도 측정), 박막두께 분석(XRR), 저각 입사 측정(GID)이 가능하다.'벤치탑 X선 회절분석기(Benchtop X-Ray Diffraction)'의 제품 특징, 제품 사양 그리고 제품 구성은 다음과 같다.제품 특징•박막 측정: 저각 입사 측정(GID), X선 반사율 측정(XRR).•"다양한 샘플 스테이지 교체" 가능.•분석 용도의 변화에 대응하는 "다양한 확장성".•장비의 상태 체크 및 교정이 자동화로 진행, 연속 작업 측정은 터치 패널의 "Push-Button" 조작으로 간편화.제품 사양•X-ray Generator: 540W(30kV, 18mA), 600W(40kV, 15mA), 1.2kW(40kV, 30mA)제품 구성(본체 + 악세서리 등)•Detector options: SSD 160-2, LYNXEYE-2, LYNXEYE XE-T•Stage options: Reflection/transmission stage, 12-position sample changer, Non-ambient stages(RT to 500℃ or -10℃ to 150℃)'벤치탑 X선 회절분석기(Benchtop X-Ray Diffraction)'에 대한 상세한 내용은 Reference(참고자료)를 통하여 확인할 수 있다.Reference(참고자료)D6 PHASER brochure ⒸBruker AXS GmbH
Maker(제조사): 브루커코리아(주)Country of Origin(원산지): GermanyData Services(자료제공): 브루커코리아(주)<이 기사는 사이언스21 매거진 2024년 4월호에 게재 되었습니다.>글쓴날 : [24-04-08 09:00]